![\"\"](\"\/\/www.dentalsurgimport.com\/wp-content\/uploads\/2020\/04\/cientifica.jpg\" "\\"cientifica\\"")
<\/span><\/p>\nEl tratamiento de superficie de PALTOP logra el resultado deseable de una superficie de implante altamente limpiada y segura con una morfolog\u00eda ideal para una integraci\u00f3n acelerada, estabilidad inicial, curaci\u00f3n \u00f3sea a largo plazo y fijaci\u00f3n biol\u00f3gica s\u00f3lida del implante.<\/strong><\/strong><\/p>\n El \u00e9xito y la seguridad de los implantes dentales depende en gran medida de la composici\u00f3n de la superficie. La extensa limpieza multietapa de PALTOP elimina los residuos no deseados derivados de la fabricaci\u00f3n, dando como resultado una superficie libre de contaminaci\u00f3n.El proceso de limpieza de PALTOP genera una capa estable de \u00f3xido de titanio que estabiliza qu\u00edmicamente la superficie del implante. El grosor \u00f3ptimo de la capa de 3-5nm, atrae los fluidos corporales sin ocultar la orfolog\u00eda de la superficie, promoviendo as\u00ed la curaci\u00f3n del hueso.<\/p>\n El departamento de tecnolog\u00eda profesional de PALTOP ha desarrollado y probado ampliamente un proceso \u00fanico para obtener la limpieza de la superficie siguiendo los protocolos y normas de la industria de los semiconductores, y actualmente se aplica en los implantes de PALTOP.El proceso fue validado utilizando tecnolog\u00edas avanzadas de medici\u00f3n del estado s\u00f3lido. Se realizaron m\u00faltiples pruebas utilizando el est\u00e1ndar XPS, XPS bulk, SEM (50x para la vista general de la contaminaci\u00f3n, y 1000x y 5000x para la microestructura de la capa superior del implante), y EDS.Estas pruebas de alto nivel se realizan rutinariamente en la l\u00ednea de fabricaci\u00f3n de PALTOP de acuerdo con los protocolos y procedimientos est\u00e1ndar de PALTOP para asegurar que los productos cumplan con la pureza superficial predeterminada.<\/p>\n – Controles de productos y procesos- Verificaci\u00f3n del proceso- Prueba del producto<\/p>\n PALTOP mantiene la integridad del concepto de limpieza a lo largo de todas las fases de procesamiento, incluyendo la fabricaci\u00f3n, limpieza, verificaci\u00f3n y empaquetado. V\u00e9ase el esquema del proceso m\u00e1s arriba.La limpieza final es el toque crucial para fabricar un producto de pureza ultra alta – por lo tanto, PALTOP emplea un proceso de enjuague de agua ultra pura de varias etapas antes del ensamblaje, la verificaci\u00f3n y el embalaje del producto.Los procesos son monitoreados para asegurar la consistencia y el desarrollo de datos para futuras especificaciones. Los productos, procesos y controles de PALTOP se mejoran continuamente de acuerdo con las especificaciones que definen el proceso actual.Vigilancia del medio ambientePALTOP emplea salas limpias seg\u00fan la especificaci\u00f3n ISO clase 7(0.5,5). Las salas limpias son constantemente monitoreadas para detectar part\u00edculas y contaminaci\u00f3n biol\u00f3gica de acuerdo con las normas ISO 14644-1, ISO 14644-3, IES-RP_CC006.3. El control de part\u00edculas muestra que las salas limpias de PALTOP est\u00e1n mucho m\u00e1s limpias de lo que obliga la norma. Las pruebas de rutina de la carga biol\u00f3gica muestran que 0-1 UFC por dispositivo est\u00e1 muy por debajo de los criterios de aceptaci\u00f3n de la norma de 45 UFC por dispositivo.Monitoreo del agua ultrapuraEl agua utilizada para los procesos de limpieza del PALTOP se controla para un nivel de conductividad final de 5,5 uS\/m. Otras propiedades como la resistividad intermedia, las bacterias y las part\u00edculas se controlan para garantizar la coherencia de los procesos.Control digitalUn sistema computarizado designado asegura el control total del flujo de trabajo y los par\u00e1metros del proceso. La documentaci\u00f3n computarizada se lleva a cabo de acuerdo con las normas ISO 9001 e ISO 13485 para una completa trazabilidad y verificaci\u00f3n del dise\u00f1o.Fabricaci\u00f3n con Control Estad\u00edstico de ProcesosEl tratamiento de la superficie, las dimensiones y varios otros atributos del producto son regulados por el PALTOP mediante un control estad\u00edstico del proceso. Este sistema garantiza la vigilancia continua de las piezas, en lugar de inspeccionar los productos acabados, asegurando as\u00ed que todas las piezas cumplen las limitaciones de las especificaciones. Este enfoque proactivo permite al PALTOP identificar con prontitud los cambios en el proceso de fabricaci\u00f3n que podr\u00edan afectar a los productos, asegurando as\u00ed que se hagan los ajustes necesarios para que no se produzcan piezas rechazadas. Esta supervisi\u00f3n \u00aben l\u00ednea y en tiempo real\u00bb asegura productos m\u00e1s consistentes y confiables, procesos de producci\u00f3n m\u00e1s eficientes y precios m\u00e1s competitivos, ya que los clientes no tienen que absorber los costos ocultos de los problemas de la l\u00ednea de producci\u00f3n.An\u00e1lisis de la superficieSe utiliza el an\u00e1lisis rutinario SEM\/EDX (rayos X de energ\u00eda dispersiva) para vigilar la pureza y morfolog\u00eda de la superficie Este proceso utiliza un sistema estandarizado de par\u00e1metros operativos para asegurar que todos los resultados sean consistentes.An\u00e1lisis de materialesSe realizan an\u00e1lisis rutinarios de espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) para evaluar la superficie, asegurar la calidad de las materias primas y validar el proceso de pureza ultra alta de PALTOP.<\/p>\n ObjetivoEl prop\u00f3sito del an\u00e1lisis de la superficie mediante la espectroscopia de fotoelectrones <\/p>\n de rayos X (XPS) es evaluar la superficie del implante PALTOP a fin de verificar que <\/p>\n las sustancias utilizadas en el proceso han sido eliminadas de la superficie <\/p>\n sin que queden oclusiones indeseables.ProtocoloEl examen XPS de los implantes PALTOP se realiz\u00f3 en el Instituto de F\u00edsica del <\/p>\n Estado S\u00f3lido, Fundaci\u00f3n de Investigaci\u00f3n y Desarrollo Technion de Israel. Los <\/p>\n implantes PALTOP se compararon con los principales competidores internacionales <\/p>\n como referencia.El m\u00e9todo de an\u00e1lisis se basa en la espectroscopia de fotoelectrones de rayos X <\/p>\n (XPS). Para el an\u00e1lisis de la superficie, las muestras se irradiaron con rayos X <\/p>\n monocrom\u00e1ticos. Los espectros de estudio se registraron con una energ\u00eda de paso <\/p>\n de 150eV, a partir de la cual se determin\u00f3 la composici\u00f3n qu\u00edmica de la superficie.Las concentraciones at\u00f3micas se calcularon utilizando factores de sensibilidad <\/p>\n elementales sin aplicar ning\u00fan procedimiento de normalizaci\u00f3n. Las energ\u00edas de <\/p>\n enlace a nivel del n\u00facleo de los diferentes picos se normalizaron fijando la energ\u00eda <\/p>\n de enlace para los C1 en 285,0eV.ResultadosEl examen se realiz\u00f3 en las dos \u00e1reas elegidas al azar. A continuaci\u00f3n se resumen <\/p>\n los resultados del an\u00e1lisis cuantitativo elemental y los espesores de la capa de<\/p>\n \u00f3xido de Ti.El informe del an\u00e1lisis XPS muestra la composici\u00f3n qu\u00edmica de la superficie <\/p>\n del implante. A excepci\u00f3n de la materia prima Ti-Al-V, podemos encontrar altos <\/p>\n niveles de ox\u00edgeno pertenecientes al \u00f3xido de Titanio, que es el sustrato para la <\/p>\n osteointegraci\u00f3n. El Nitr\u00f3geno y el Carbono se derivan de la atm\u00f3sfera. <\/p>\n No quedan otras contaminaciones o residuos del proceso de producci\u00f3n <\/p>\n en la superficie del implante, lo que demuestra que la superficie del implante <\/p>\n PALTOP es ultra limpia.ConclusionesEl tratamiento de la superficie, las dimensiones y varios otros atributos <\/p>\n del producto son regulados por el PALTOP mediante un control estad\u00edstico <\/p>\n del proceso. Este sistema garantiza la vigilancia continua de las piezas, en <\/p>\n lugar de inspeccionar los productos acabados, asegurando as\u00ed que todas <\/p>\n las piezas cumplen las limitaciones de las especificaciones. Este enfoque <\/p>\n proactivo permite al PALTOP identificar con prontitud los cambios en el <\/p>\n proceso de fabricaci\u00f3n que podr\u00edan afectar a los productos, asegurando as\u00ed <\/p>\n que se hagan los ajustes necesarios para que no se produzcan piezas rechazadas. <\/p>\n Esta supervisi\u00f3n \u00aben l\u00ednea y en tiempo real\u00bb asegura productos m\u00e1s <\/p>\n consistentes y confiables, procesos de producci\u00f3n m\u00e1s eficientes y precios <\/p>\n m\u00e1s competitivos, ya que los clientes no tienen que absorber los costos <\/p>\n ocultos de los problemas de la l\u00ednea de producci\u00f3n.Composici\u00f3n at\u00f3mica calculada a partir del estudio XPS (%) y el espesor <\/p>\n del \u00f3xido (nm) calculado a partir del espectro HR-XPS.<\/p>\n Se puede concluir que las superficies del PALTOP en lo que respecta a la <\/p>\n contaminaci\u00f3n indeseable, las oclusiones y los residuos son puras y seguras<\/p>\n para su uso<\/p>\n An\u00e1lisis de la superficie por SEM\/EDSObjetivoEl prop\u00f3sito del an\u00e1lisis de la superficie mediante el ensayo de SEM\/EDS fue <\/p>\n verificar que se lograron las macro y micro estructuras deseadas (rugosidad y <\/p>\n morfolog\u00eda de la superficie) y evaluar la superficie del implante PALTOP <\/p>\n para verificar que no quedaran part\u00edculas del procesamiento.ProtocoloEl an\u00e1lisis de la superficie se realiz\u00f3 mediante Microscop\u00eda Electr\u00f3nica de <\/p>\n Barrido y an\u00e1lisis de Espectroscop\u00eda de Energ\u00eda Dispersa (SEM\/EDS) utilizando FEI <\/p>\n Inspect SEM con el micro-analizador INCA EDS adjunto. Se utilizaron im\u00e1genes de <\/p>\n EEB para enfatizar las contaminacionesEl ensayo se realiz\u00f3 en el Instituto Israel\u00ed de Metales en la fundaci\u00f3n de <\/p>\n investigaci\u00f3n y desarrollo Technion (IIT, Technion Israel Institute of Technology).ResultadosComo puede verse en la figura 1.5, las fotomicrograf\u00edas de las superficies chorreadas <\/p>\n no muestran part\u00edculas que queden en la superficie, lo que significa que las <\/p>\n part\u00edculas utilizadas para el chorreo con arena de la superficie del implante fueron <\/p>\n eliminadas y que las sustancias utilizadas para el procesamiento del implante <\/p>\n PALTOP han sido lavadas a fondo.< Adem\u00e1s, las im\u00e1genes microsc\u00f3picas SEM muestran estructuras en forma de nano <\/p>\n cr\u00e1teres con una estructura superficial macro, micro y nano que se asemeja mucho <\/p>\n a la morfolog\u00eda del hueso.Se puede concluir que el implante PALTOP muestra una superficie rugosa que <\/p>\n favorece tanto el anclaje del hueso como la estabilidad biomec\u00e1nica, as\u00ed como una <\/p>\n superficie libre de contaminaciones, oclusiones y residuos.<\/p>\n Tratamiento de superficie avanzado El \u00e9xito de los implantes dentales se basa en un proceso conocido como osteointegraci\u00f3n, que ocurre cuando las c\u00e9lulas \u00f3seas se adhieren directamente a la superficie de titanio, bloqueando esencialmente el implante en el hueso de la mand\u00edbula. La tasa de osteointegraci\u00f3n de los implantes dentales de titanio est\u00e1 asociada…<\/p>\nSuperficie limpia<\/h2>\n
Especificaci\u00f3n del proceso de tecnolog\u00eda <\/h2>\n
de superficie ultra limpia<\/h2>\n
An\u00e1lisis de superficie por XPS<\/h2>\n
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